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CHROMA致茂電子電氣安規(guī)多點(diǎn)掃描測(cè)試設(shè)備 Model 19200產(chǎn)品特色

更新時(shí)間:2024-02-29點(diǎn)擊次數(shù):521

CHROMA致茂電子產(chǎn)品特色

電氣安規(guī)多點(diǎn)掃描測(cè)試設(shè)備 Model19200

支持電氣安規(guī)測(cè)試掃描功能

 AC/DC耐壓測(cè)試

 IR絕緣阻抗測(cè)試

GB接地電阻測(cè)試辦

ELC對(duì)地動(dòng)態(tài)漏電流中

ECLC外殼動(dòng)態(tài)混電流中

PLC病患動(dòng)態(tài)漏電流

 PALC病患從居漏豐流高壓、低壓間隔高電路切換(Switch模塊)

高壓與接地測(cè)試間浮接電路(GBF模塊)

可抽換模塊化設(shè)計(jì)

支援最多9臺(tái)受控子機(jī)

標(biāo)準(zhǔn)RS232及USB接口

可選購(gòu)GPIB界面

可支持8900電氣產(chǎn)品自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

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近年來(lái)IEC國(guó)際電子為了讓消要者在便用電氣產(chǎn)品時(shí)更加安全。在標(biāo)準(zhǔn)中加入更多的電氣安規(guī)網(wǎng)法。除了AC/DC耐壓測(cè)法,(R編緣電限測(cè)話,GB接地電限測(cè)試[C對(duì)地動(dòng)態(tài)混電流測(cè)試外,尚有針對(duì)醫(yī)療設(shè)備之ELC(對(duì)地漏電流)、ECLC(外殼漏電流)、PLC(病患漏電流)、PALC(病患從屬漏電流)等動(dòng)態(tài)泄漏電流測(cè)試,使得電氣安規(guī)測(cè)試日益繁復(fù),且各項(xiàng)測(cè)試皆須針對(duì)不同的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試,不但測(cè)試過(guò)程復(fù)雜容易出錯(cuò),也額外產(chǎn)生了測(cè)試人力成本。

Chroma新推出19200機(jī)種可整合多種電氣安規(guī)測(cè)試以及高低壓測(cè)試切換,掃描信道可耐壓 5kvac/6kVdc高壓輸出,符合市場(chǎng)安規(guī)機(jī)種之耐壓需求,最大輸出電流可達(dá)40mA)部份模塊可支持20A電流輸出,可進(jìn)行動(dòng)態(tài)泄漏電流及功能性測(cè)試(function Test);接地模塊可支持40A電流或Ground floating功能。所有的輸出控制可由RS232、GPIB或USB等接口來(lái)操作。

Chroma 19200可搭配Chroma安規(guī)測(cè)試機(jī)系列及8900系統(tǒng)可進(jìn)行測(cè)試程序及信道掃描的編輯及測(cè)試,對(duì)于醫(yī)療設(shè)備、醫(yī)療用電源、UPS、馬達(dá)等需要多項(xiàng)程序測(cè)試的產(chǎn)品大量節(jié)省人力成本以及減少錯(cuò)誤發(fā)生,更可用軟件儲(chǔ)存大量不同測(cè)試程序及結(jié)果,將數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理,不但擁有可靠的質(zhì)量,產(chǎn)線更能有效率的管理與生產(chǎn)。

可抽換模塊設(shè)計(jì)及多機(jī)受控設(shè)計(jì)為因應(yīng)不同產(chǎn)品具有不同的安規(guī)測(cè)試項(xiàng)目,目不同產(chǎn)品會(huì)有不同測(cè)試程序,Chroma19200以模塊的方式來(lái)搭配不同的掃描測(cè)試,共有8個(gè)模塊:AC UNE模塊,GENERAL模塊,AC UNE2模塊,EARTH模塊,SWITCH模塊,不同的模塊具有不同的切換功能,您可依不同的需求,將不同模塊做組合搭配后成為最-具效率的測(cè)試掃描設(shè)備。Chroma19200提供單機(jī)8組可抽換模塊空間,及最多9臺(tái)主機(jī)/子機(jī)受控設(shè)計(jì),最多可高達(dá)288個(gè)測(cè)試輸出點(diǎn)。您可針對(duì)不同的測(cè)試回路以及程序編輯,做出多種組合的切換及輸出搭配。

高低壓測(cè)試電路切換

為了整合電氣安規(guī)測(cè)試及其他功能性測(cè)試,Chroma19200新增了SWITCH高低壓切換模塊。經(jīng)由高低壓切換模塊的組合,可將高壓的電氣安規(guī)測(cè)試與低壓的功能性測(cè)試結(jié)合在一起,如:LCR測(cè)試,POWER測(cè)試,啟動(dòng)測(cè)試等等,讓產(chǎn)在線測(cè)試程序一次完成,并將測(cè)試數(shù)據(jù)完整的記錄,增進(jìn)測(cè)試效率,降低多站測(cè)試的風(fēng)險(xiǎn)。