XRF-650T X熒光射線膜鍍層測(cè)厚儀XRF-650T是測(cè)鍍鋅層厚度的儀器，專門用于鍍鋅層厚度檢測(cè)；其核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告；精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過(guò)國(guó)內(nèi)外同類儀器，特別針對(duì)大件異形不平整樣品，無(wú)需拆分，直接測(cè)試即可達(dá)到精.確的測(cè)試效果

產(chǎn)品型號(hào)：xRF-650T

更新時(shí)間：2024-11-01

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XRF-650T X熒光射線膜厚分析儀鍍層檢測(cè)儀電鍍測(cè)厚儀

仲達(dá)XRF系列能量色散X熒光光譜儀，是仲達(dá)儀器在汲取了我國(guó)多年在該領(lǐng)域的經(jīng)驗(yàn)和教訓(xùn)，和技術(shù)基礎(chǔ)上，深入進(jìn)行產(chǎn)業(yè)化研發(fā)形成并擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高科技產(chǎn)品，各項(xiàng)技術(shù)性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)際同類產(chǎn)品水平仲達(dá)XRF-650T X熒光射線膜鍍層測(cè)厚儀

XRF-650T是測(cè)鍍鋅層厚度的儀器，專門用于鍍鋅層厚度檢測(cè)；其核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告；精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過(guò)國(guó)內(nèi)外同類儀器，特別針對(duì)大件異形不平整樣品，無(wú)需拆分，直接測(cè)試即可達(dá)到精確的測(cè)試效果。仲達(dá)XRF-650T X熒光射線膜鍍層測(cè)厚儀

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